Ostatnia aktualizacja: 2023-05-19
Elipsometra, badanie cienkich warstw.
Jeśli w zakresie Twoich zainteresowań leży badanie właściwości cienkich warstw metodami optycznymi, w tym przy wykorzystaniu elipsometrii, działasz w obszarze technologii fotonicznych, organicznej elektroniki lub fotowoltaiki, na pewno warto zwrócić uwagę na to wydarzenie.
Thin Film Metrology Seminar.
13-14 czerwca 2023, ACMiN AGH, Kraków.
Więcej informacji na stronie:
https://lnkd.in/eugzTmfD
Aplikacje można składać przez formularz online:
https://lnkd.in/e8MFZBKf
Będzie możliwe wykonanie pomiarów elipsometrycznych własnych, zgłoszonych w formularzu próbek.
Liczba miejsc jest ograniczona.
Kategoria komunikatu:
Zaproszenia
- Dodał:
- LABSOFT Sp. z o.o.
Czytaj także
-
Nowy rozdział dla COPA-DATA CEE/ME
Oddziały naszej spółki, odgrywają ważną rolę w osiąganiu międzynarodowego sukcesu COPA-DATA. Dotyczy to również COPA-DATA CEE/ME, który odpowiada...
-
Komory klimatyczne - zasada działania i zastosowanie
www.srodowisko.plKomora klimatyczna jest urządzeniem laboratoryjnym szeroko stosowanym w laboratorium oraz przemyśle. Komora klimatyczna służy do...